摘要 產(chǎn)品描述HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-388光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-300光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品描述Zeta-20臺式光學輪廓儀的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學量測技術(shù)

摘要 1.北京智能型臺階儀測試在3分鐘的定量負荷后心率變化情況，評定學生心血管功能，反映心肺機能水平 2.支持從電腦上集中一次性下載學生信息數(shù)據(jù)到主機,無需人工錄入, 3.主機支持脫機測試和瀏覽/查詢,測完后可以將成績上傳到電腦上,然后

摘要 性能指標掃描時最小正壓力:0.03mg(軟件可編程選擇和自動控制,無需手動)

摘要 儀器名稱：臺階儀，膜厚儀，探針接觸式輪廓儀，3D輪廓儀型號美國KLA-TencorD-120檢測項目：1、薄膜、涂層厚度測量；2、表面粗糙度+三維形貌；3、表面粗糙度測量；4、三坐標測量+三維形貌測量；5、2D薄膜應(yīng)力測量；6、2D彎曲度和形狀測量

摘要 簡要描述：桌面型探針式表面輪廓儀

摘要三維表面測量儀光學輪廓儀臺階儀Super Focus3000是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。可廣泛應(yīng)用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、國...

摘要 三維表面測量儀輪廓儀臺階儀（納米級）NanoFocus2000是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款檢測設(shè)備,測量精度重復(fù)性達到世界較高水平;關(guān)鍵硬件采用美國、德國、日本等;配備進口第三方校準標準件 高性價比微觀形貌測量設(shè)備;迅捷、高效的上等售后服務(wù)

摘要 臺階儀膜厚儀探針接觸式輪廓儀美國KLA，垂直分辨率:0.38A，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導體硅片、微電子器件、薄膜化學涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜材料的開發(fā)研究工作上極為重要。

摘要布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達 5。第十代 DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二極管...

摘要 一、儀器的功能及用途能夠在大氣環(huán)境下準確地測量樣品表面臺階變化；使用金剛石（鉆石）探針接觸直動式測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用

摘要這款三維臺階儀是德國進口的高精度光學臺階儀器,也是一款光學表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標準方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺階高度,距離,...

摘要簡單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導體硅片、微電子器件、薄膜化學涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜...

摘要 P-7可以對nm-µm級臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接

摘要 品 牌：Bruker 產(chǎn) 地：德國 型 號：Dektak XTL

摘要 產(chǎn)品描述MicroXAM-800光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)

摘要 臺階儀S1400G-LCD

摘要此型工業(yè)用臺階儀基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。...

摘要 臺階儀集合了共焦光學形貌儀，WLI白光干涉形貌儀，原子力顯微鏡，接觸和非接觸式雙模式表面形貌檢測

摘要 探針式輪廓儀新-升級到性能德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺階儀

摘要 全自動探針臺階儀HRP-260

摘要 D-600 探針式輪廓儀 膜厚儀 臺階儀

摘要 全自動臺階儀P170

摘要 臺階儀 探針式輪廓儀 膜厚儀 P17

摘要 臺階儀 探針式輪廓儀 膜厚儀 P7

摘要 P17 自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P170 全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 D300 經(jīng)濟型高精度臺階儀

摘要 D500 高精度臺階儀

摘要 D600 高精度探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

摘要 Kosaka ET150臺階儀 KOSAKAET150基于WindowsXP系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS及平板顯示等。

摘要 我們做為世界高精度臺階儀、光學輪廓儀的，是生產(chǎn)悠久的公司

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺階儀

摘要 產(chǎn)品概述：●高精度．安定性．機能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細形狀、段差、粗度測定的機型

摘要這款三維臺階儀是德國進口的高精度光學臺階儀器,也是一款光學表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標準方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺階高度,距離,...

摘要簡單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導體硅片、微電子器件、薄膜化學涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜...

摘要KOSAKA 臺階儀ET4000系列產(chǎn)品概述：● 高精度．安定性．機能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細形狀、段差、粗度測定的機型。● 是多機能的全自動微細形狀測定機，針對用途及樣品尺寸有多種機型可供選擇。● ET4000A/ ET4000AK一可實現(xiàn)2D...

摘要 KOSAKA 臺階儀產(chǎn)品概述：● ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。● ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，安定的測量過程及微小的測定力可對應(yīng)軟質(zhì)樣品表面。● 該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現(xiàn)性高。

摘要 Alpha-Step D-500臺階儀探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行精確測量。 通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 Alpha-Step D-600 臺階儀探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行精確測量。 通過測量粗糙度和應(yīng)力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 P-17 臺階儀因而具備出色的測量穩(wěn)定性。 通過點擊式平臺控制、頂視和側(cè)視光學系統(tǒng)以及帶光學變焦的高分辨率相機等功能，程序設(shè)置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測量。 并通過圖案識別、排序和特征檢測實現(xiàn)全自動測量。