摘要中圖儀器NS系列臺階儀探針輪廓儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面...

摘要NS系列膜厚臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。儀器采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術，使得儀...

摘要 中圖儀器NS系列接觸式臺階儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。它對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

摘要 中圖儀器NS臺階儀探針式表面輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點。它可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

摘要 NS200國產臺階形貌儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優勢。

摘要 NS200國產臺階膜厚儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優勢。

摘要 NS系列臺階輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度，可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

摘要 NS系列微觀表面臺階顯微檢測儀是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，500萬像素高分辨率彩色攝像機，即時進行高精度定位測量。可以將探針的形貌圖像傳輸到控制電腦上，使得測量更加直觀。

摘要 NS200臺階厚度測量儀能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度，可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料，是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀。

摘要 針對測量ITO導電薄膜的應用場景，NS系列臺階厚度儀結合了360°旋轉臺的全電動載物臺，能夠快速定位到測量標志位；對于批量樣件，提供自定義多區域測量功能，實現一鍵多點位測量；提供SPC統計分析功能，直觀分析測量數值變化趨勢。

摘要NS200探針式臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應面廣，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用...

摘要 NS200國產臺階儀能夠測量幾個納米到330μm的臺階高度。這使其可以準確測量在蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料；可以測量表面的2D形狀或翹曲。也能夠測量在生產中包含多個工藝層的半導體或化合物半導體器件所產生的應力。

摘要表面微觀特征是材料、化學、精密制造等領域的主要研究內容，準確地評價表面微觀形貌、表面特征等，對于相關材料的評定、性能的分析和加工工藝的改善都具有重要意義。在半導體、光伏、LED、MEMS器件、材料等領域，表面臺階高度、膜厚的準確測量具有十分重要的價值，尤其是臺階高度是...

摘要 臺階儀

摘要 產品描述：Dektak Pro是布魯克新發布的一款的探針式輪廓儀/臺階儀，基于第十一代Dektak®系統，具有4 ?重復性的優異表現，并提供200毫米平臺選項

摘要 P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。

摘要P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業的P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為機械傳送臂系統提供了極低的擁有成本，適用于半導體，化合物半導體和相關行業。 P-170可以對臺...

摘要P-17是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經驗的結晶。該系統業界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。該系統結合了UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，因而具備出色的測量穩定性。 ...

摘要Alpha-Step D-600探針式輪廓儀支持臺階高度和粗糙度的2D及3D測量，以及翹曲度和應力的2D測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節的觸力以及探針的選擇...

摘要Alpha-Step D-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構...

摘要 KLA D-300探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 產品介紹 Alpha-Step D-500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 產品介紹 KLA的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復性以及亞埃級的分辨率。

摘要 產品介紹 KLA是半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數據存儲、 MEMS 、太陽能、光電子 以及其他領域中有著不俗的。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經技術積累和不 斷迭代更新，集合眾多技術優勢。

摘要產品介紹 P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業的P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為機械傳送臂系統提供了低成本，適用于半導體，化合物半導體和相關行業。 P-170可以對...

摘要 產品介紹 P-17是第八代臺式探針輪廓儀。該系統業界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。

摘要 產品介紹 Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感 器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 日本KOSAKA臺階儀ET200用于測量半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。

摘要 產品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。

摘要 適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。

摘要布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創新性的設計，可以提供的重現性，重現性低于4?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak 技術創新的，更加鞏固了其行業地位。通過整合其行業產品，DektakXT 實現了性能。操作簡易，從研發到質量控制都...

摘要 臺階儀D-300/500

摘要 D-600可以對幾納米到1200µm的2D和3D臺階高度、粗糙度、應力進行測量。

摘要 P-17支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，單次掃描高達200mm，無需圖像拼接測量。

摘要 Alpha-StepD-300探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量

摘要 品 牌：Bruker 產 地：德國 型 號：DEKTAK XT

摘要 日本KOSAKA ET200 臺階儀，日本KOSAKA ET200 臺階儀配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態，更方便準確的定位測試區域。

摘要 超微力臺階儀/膜厚儀StylusSurfaceProfilometers簡介：超微力臺階儀/膜厚儀Alpha-StepIQ是探針接觸式表面輪廓儀(臺階儀.膜厚儀)

摘要 日本KOSAKAET200接觸式臺階儀日本KOSAKAET200接觸式臺階儀基于Windows操作系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等

摘要 布魯克DektakXT臺階儀

摘要 產品描述P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業的P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合

摘要 產品描述P-17臺式探針式輪廓儀是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經驗的結晶

摘要 產品描述Alpha-StepD-600探針式輪廓儀支持臺階高度和粗糙度的2D及3D測量，以及翹曲度和應力的2D測量

摘要 產品描述P-7臺式探針式輪廓儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境

摘要 產品描述Alpha-StepD-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量