牛津儀器推出手持式硅漂移探測器X射線熒光分析儀

　　 新的 X 射線熒光 （XRF） 分析儀 X-MET5100 將手持式儀器的分析性能提高到全新水平。

　　X-MET5100 將牛津儀器的硅漂移探測器 （SDD） 和強大的 45 千伏 X 射線管結合起來，顯示了儀器設計上的革命性突破。這種技術提供了快速、高精度的測量，并且無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可以對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量，這實在是手持式 X 射線熒光 （XRF） 分析的一大飛躍。

　　PMI 檢測行業、廢舊金屬回收行業、特別是航空工業終于擁有了他們一直期待的堅固的便攜式 XRF 輕元素測試工具。X-MET5100 保證了鋁及鈦合金的實驗室質量分析的性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是的。

　　硅漂移探測器 （SDD）、45 千伏 X 射線管和經驗系數分析方法的強大結合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內，準確地分析和確定金屬合金成分。受限物質（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質可以得到準確測量，其速度之快，在從前是*可能的。在幾秒鐘之內，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結果。X-MET5100 的速度和準確性確保了可靠的實時檢測結果。

　　X-MET5100 是牛津儀器用于日常多元素分析的 X-MET5000 的升級產品，后者于今年早些時候成功推出。這兩款儀器都符合 IP54 （NEMA 3） 防塵防水認證要求，能夠承受zui苛刻的工作條件。

　　X-MET5100 已于 9 月在拉斯維加斯鈦展覽會和德國埃森世界鋁貿易博覽會上成功展出。預計將于2008 年11 月11 日至13 日在北京會議中心舉行的2008（第五屆） 中國礦業博覽會上在中國展出。